Aplicación del análisis de ruido flicker para la optimización estructural del silicio poroso como material básico en la producción de nuevos sensores y diodos emisores de luz
dc.contributor.advisor | Araya Pochet, José Alberto | |
dc.contributor.author | Ramírez Porras, Arturo | en_US |
dc.date.accessioned | 2013-09-30T20:53:48Z | |
dc.date.accessioned | 2021-09-06T23:13:37Z | |
dc.date.available | 2013-09-30T20:53:48Z | |
dc.date.available | 2021-09-06T23:13:37Z | |
dc.date.issued | 2005 | en_US |
dc.description | Tesis (magíster scientiae en sistemas digitales)--Universidad de Costa Rica. Sistema de Estudios de Posgrado, 2005. | en_US |
dc.description.procedence | UCR::Investigación::Sistema de Estudios de Posgrado::Ingeniería::Maestría Académica en Ingeniería Eléctrica con énfasis en Sistemas Digitales | |
dc.identifier.uri | https://repositorio.sibdi.ucr.ac.cr/handle/123456789/1091 | |
dc.language.iso | spa | en_US |
dc.subject | OPTOELECTRONICA - INVESTIGACIONES | en_US |
dc.subject | SILICIO - PROPIEDADES ELECTRICAS | en_US |
dc.subject | DIODOS EMISORES DE LUZ | en_US |
dc.subject | DISPOSITIVOS ELECTROOPTICOS | en_US |
dc.title | Aplicación del análisis de ruido flicker para la optimización estructural del silicio poroso como material básico en la producción de nuevos sensores y diodos emisores de luz | en_US |
dc.type | tesis de maestría | es_CR |
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