Aplicación del análisis de ruido flicker para la optimización estructural del silicio poroso como material básico en la producción de nuevos sensores y diodos emisores de luz

dc.contributor.advisorAraya Pochet, José Alberto
dc.contributor.authorRamírez Porras, Arturoen_US
dc.date.accessioned2013-09-30T20:53:48Z
dc.date.accessioned2021-09-06T23:13:37Z
dc.date.available2013-09-30T20:53:48Z
dc.date.available2021-09-06T23:13:37Z
dc.date.issued2005en_US
dc.descriptionTesis (magíster scientiae en sistemas digitales)--Universidad de Costa Rica. Sistema de Estudios de Posgrado, 2005.en_US
dc.description.procedenceUCR::Investigación::Sistema de Estudios de Posgrado::Ingeniería::Maestría Académica en Ingeniería Eléctrica con énfasis en Sistemas Digitales
dc.identifier.urihttps://repositorio.sibdi.ucr.ac.cr/handle/123456789/1091
dc.language.isospaen_US
dc.subjectOPTOELECTRONICA - INVESTIGACIONESen_US
dc.subjectSILICIO - PROPIEDADES ELECTRICASen_US
dc.subjectDIODOS EMISORES DE LUZen_US
dc.subjectDISPOSITIVOS ELECTROOPTICOSen_US
dc.titleAplicación del análisis de ruido flicker para la optimización estructural del silicio poroso como material básico en la producción de nuevos sensores y diodos emisores de luzen_US
dc.typetesis de maestríaes_CR

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