Aplicación del análisis de ruido flicker para la optimización estructural del silicio poroso como material básico en la producción de nuevos sensores y diodos emisores de luz

Araya Pochet, José AlbertoRamírez Porras, Arturo2013-09-302021-09-062013-09-302021-09-062005https://repositorio.sibdi.ucr.ac.cr/handle/123456789/1091Tesis (magíster scientiae en sistemas digitales)--Universidad de Costa Rica. Sistema de Estudios de Posgrado, 2005.spaOPTOELECTRONICA - INVESTIGACIONESSILICIO - PROPIEDADES ELECTRICASDIODOS EMISORES DE LUZDISPOSITIVOS ELECTROOPTICOSAplicación del análisis de ruido flicker para la optimización estructural del silicio poroso como material básico en la producción de nuevos sensores y diodos emisores de luztesis de maestría