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Fecha de publicaciónTítuloAutor(es) y Director(a)
2005Aplicación del análisis de ruido flicker para la optimización estructural del silicio poroso como material básico en la producción de nuevos sensores y diodos emisores de luzAraya Pochet, José Alberto; Ramírez Porras, Arturo
2021Dispersión de cristales líquidos en matrices de óxidos mixtos de silicio y vanadioCastellón Elizondo, Erick; Cascante Jiménez, Jose Francisco
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